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AEC-Q100认证公司

文章泉源 : 广东太阳GG检测 揭晓时间:2023-09-19 浏览数目:

AEC-Q100认证公司

太阳GG检测认证是具备AEC-Q100标准CNAS全项检测能力和CNCA发证资质AEC-Q100认证公司,可提供IC集成电路AEC-Q100认证效劳。


公司外景.jpg


什么是AEC-Q100?

AEC-Q100是AEC的第一个标准,主要是针对车载应用的集成电路产品所设计出的一套应力测试标准,此规范关于提升产品信任性品质包管相当主要。AEC-Q100是预防可能爆发种种状态或潜在的故障状态,对每一个芯片举行严酷的质量与可靠度确认,特殊对产品功效与性能举行标准规范测试。

AEC-Q100有四个温度品级:0,1,2,3。其中0为最高级别,响应的温度区间为-40°C-150°C。若能抵达0级要求则代表产品可以用于汽车各个部件。

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温度规模是AEC-Q100焦点标准之一。


要求通过AEC-Q100认证的车用零件

车用一次性内存、电源降压稳压器、车用光电耦合器、三轴加速规传感器、视讯译码器、整流器、情形光传感器、非易失性铁电存储器、电源治理IC、嵌入式闪存、DC/ DC稳压器、车规网络通讯装备、液晶驱动IC、单电源差动放大器、电容靠近式开关、高亮度LED驱动器、异步切换器、600V IC、GPS IC、ADAS高级驾驶员辅助系统芯片、GNSS吸收器、GNSS前端放大器等。


aec-q100-3.jpg


AEC-Q100的子标准

类似于一样平常汽车零部件的DV测试,AEC-Q标准着实也就是一种对芯片自己的设计认可的测试标准,分为差别的测试序列,对芯片举行差别维度的测试。

AEC-Q100一共分为13个子标准,划分是AEC-Q100主标准和从001到012的12个子标准。

标准编号

标准名

中文寄义

AEC-Q100 Rev-H

Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Integrated  Circuits(base document

基于集成电路应力测试认证的失效机理

AEC-Q100-001

Wire Bond Shear Test

邦线切应力测试

AEC-Q100-002

Human Body Model (HBM) Electrostatic Discharge Test

人体模式静电放电测试

AEC-Q100-003

Machine Model (MM) Electrostatic Discharge Test

机械模式静电放电测试

AEC-Q100-004

IC Latch-Up Test

集成电路闩锁效应测试

AEC-Q100-005

Non-Volatile Memory Program/Erase Endurance, Data Retention, and  Operational Life Test

非易失性存储程序/擦除耐久性、数据坚持及事情寿命的测试

AEC-Q100-006

Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test (GL)

热电效应引起的寄生门极泄电流测试

AEC-Q100-007

Fault Simulation and Test Grading

故障仿真和测试品级

AEC-Q100-008

Early Life Failure Rate (ELFR)

早期寿命失效率

AEC-Q100-009

Electrical Distribution Assessment

电分派的评估

AEC-Q100-010

Solder Ball Shear Test

锡球剪切测试

AEC-Q100-011

Charged Device Model (CDM) Electrostatic Discharge Test

带电器件模式的静电放电测试

AEC-Q100-012

Short Circuit Reliability Characterization of Smart Power Devices  for 12V Systems

12V 辖档烷敏功率装备的短路可靠性形貌


AEC-Q100的测试项目

AEC-Q100详细划定了一系列的测试,同时界说了应力测试驱动型认证的最低要求以及IC认证的参考测试条件。这些测试包括7个测试群组:

测试群组A (情形压力加速测试,Accelerated Environment Stress)

测试群组B (使用寿命模拟测试,Accelerated Lifetime Simulation)

测试群组C (封装组装整合测试,Package Assembly Integrity)

测试群组D (芯片晶圆可靠度测试,Die Fabrication Reliability)

测试群组E (电气特征确认测试,Electrical Verification)

测试群组F (瑕疵筛选监控测试,Defect Screening)

测试群组G (封装凹陷整合测试,Cavity Package Integrity)

关于每个测试群组中的详细测试项目,在AEC-Q100标准中有详细的形貌,并且每种测试的测试时间也凭证Grade品级给出了差别的要求。在AEC-Q100的测试中,关于序列A中,测试的样品数许多都是77个,并且要求0 Fails,这就极大得增添了芯片测试的置信度。


AEC-Q100认证的作用

AEC-Q100认证主要用于预防产品可能爆发种种状态或潜在的故障状态,指导零部件供货商在开发的历程中就能接纳切合该规范的芯片。AEC-Q100对每一个芯片个案举行严酷的质量与可靠度确认,确认制造商所提出的产品数据表、使用目的、功效说明等是否切合最初需求的功效,以及在一连使用后功效与性能是否能始终如一。

AEC-Q100标准的目的是提高产品的良品率,这对芯片供货商来说,岂论是在产品的尺寸、及格率及本钱控制上都面临很大的挑战。不管是投标照旧占领市场,要想尽早进入汽车领域并且驻足,AEC-Q100系列认证都将会是车规芯片认证的首选。


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