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文章泉源 : 广东太阳GG检测 揭晓时间：2023-08-24 浏览数目：
电子元器件可靠性试验是电子装备可靠性的基础，电子元器件高温存储试验是将元器件袒露在高温情形中，以此来评价元器件在高温事情情形中遇到的运输、贮存、使用情形条件下的性能 。
太阳GG检测是专业第三方电子元器件情形可靠性试验检测机构，实验室具备电子元器件天气情形试验、综合情形试验、机械情形试验检测资质和检测能力，可提供电子元器件高温存储试验第三方检测效劳，并可出具国家认可的中文或英文检测报告 。
电子元器件的失效许多是由于情形温度造成体内和外貌的种种物理、化学转变所引起的 。温度升高后，使得化学反应速率大大加速，其失效历程也获得加速，使有缺陷的元器件能实时袒露 。
通过提高元器件情形温度，加速元器件中可能爆发或保存的任何化学反应历程（如由水汽或其他离子所引起的侵蚀作用，外貌泄电、沾污以及金-铝之间金属化合物的天生等），使具有潜在缺陷的元器件提前失效而剔除 。
高温贮存试验关于外貌沾污、引线键合不良和氧化层缺陷等都有很好的筛选作用 。
高温贮存是在试验箱内模拟高温条件，对元器件施加高温应力（不加电应力），使得元器件体内和外貌的种种物理、化学转变的化学反应速率大大加速，其失效历程也获得加速，使有缺陷的元器件能尽早袒露 。
高温贮存筛选的特点：
1. 最大的优点是操作轻盈易行，可以大批量举行，投资少，其筛选效果也不差，因而是现在较量普遍接纳的筛选试验项目 。
2. 通过高温贮存还可以使元器件的性能参数稳固下来，镌汰使用中的参数漂移，故在GJB548中也把高温贮存试验称为稳固性烘焙试验 。
3. 关于工艺和设计水平较高的成熟器件，由于器件自己已很稳固，以是做高温存贮筛选效果很差，筛选率险些为零 。
元器件的电稳固性、金属化、硅侵蚀和引线键合缺陷等 。
1. 温度-时间应力简直定
在不损害半导体器件的情形下筛选温度越高越好，因此应尽可能提高贮存温度 。贮存温度需凭证管壳结构、质料性子、组装和密封工艺而定，同时还应特殊注重温度和时间的合理确定 。有一种误解以为温度越高、时间越长筛选磨练就越严酷，这是过失的 。确定温度、时间对应关系的原则是：坚持对元器件施加的应力强度不可变，即若是提高了贮存温度，则应镌汰贮存时间 。
2、高温贮存大都在封装后举行，半导体器件也有在封装前的圆片阶段或键合后举行，或封装前后都举行 。
3、国军标中划定高温贮存试验竣事后，必需在96 小时内完毕对元器件的测试比照 。
1. 专家团队
可靠性检测专家、定制化效劳、专业职员手艺培训效劳，拥有多名航空、航天电子元器件质量可靠性专组成的专家团队50余人 。
2. 专业装备
配备种种规格的集成电路测试系统，老炼箱50余台、种种情形箱体20台套、机械性能与可靠性检测装备30台套、半导体分立器件测试系统、模拟器件测试系统、检漏系统、PIND颗粒碰撞检测装备等 。
3. 一站式计划效劳
依据客户产品规格，准确制订元器件的筛选计划和规程\依据筛选效果，准确定位元器件失效机理，并依据客户需求给出元器件失效剖析计划 。
4. 权威包管
军用级检测系统控制+军方实验室认可检测装备，包管测试流程和测试精度，第三方公正检测机构 。
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