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文章泉源 : 广东太阳GG检测 揭晓时间：2023-06-28 浏览数目：
粒子碰撞噪声检测(PIND)试验是一种用于密封元器件可靠性包管的测试要领 。密封元器件在生产历程中保存着一个被忽视的危害，即内部可能保存多余的细小松散颗粒，这些颗？赡芑岬贾略骷失效 。PIND试验可以有用地检测到密封元器件内部的这些多余细小颗粒，从而阻止质量事故的爆发 。
PIND试验的原理是使用振动装置、驱动装置、攻击装置或工具、阈值检测器、粘附剂、传感器等装备，对元器件举行近似现实应用条件的正弦振动和脉冲攻击情形 。通过一系列振动和攻击循环，当保存足够大质量的颗粒时，这些颗粒在与器件封装壳体碰撞时会激活传感器，从而被探测出来 。PIND试验是一种非破损性的测试要领，旨在检测元器件封装腔体内保存的自由粒子 。
器件样品信息：
器件名称：集成电路
器件型号：M27C512
试验依据：GJB 548B-2005微电子器件试验要领和程序 要领2020.1
PIND试验项目和条件：
| 试验顺序 | 试验条件 |
| 试验前攻击 | 1000g，3次 |
| 振动 | 20g，1次，60HZ，3s |
| 与上条振动同时举行攻击 | 1000g，3次 |
| 振动 | 20g，1次，60HZ，3s |
| 与上条振动同时举行攻击 | 1000g，3次 |
| 振动 | 20g，1次，60HZ，3s |
| 与上条振动同时举行攻击 | 1000g，3次 |
| 振动 | 20g |
请注重，以上是对粒子碰撞噪声检测(PIND)试验的简要先容和一个案例分享 。该试验要领在密封元器件的可靠性包管中起着主要作用，资助发明并阻止因多余细小颗粒引起的质量事故 。
太阳GG检测实验室配备粒子碰撞噪声检测仪，可举行继电器、电源？椤⒕д瘛氲继宸至⑵骷、集成电路等诸多类型空腔元器件的粒子碰撞噪声检测（PIND）试验，可有用地提高电子元器件的使用可靠性 。
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