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分立器件HTRB高温反向偏压试验先容

文章泉源 : 广东太阳GG检测 揭晓时间:2023-06-07 浏览数目:

什么是高温反向偏压试验 ?

高温反向偏压试验(High TemperatureReverseBias),简称HTRB 。是分立器件可靠性最主要的一个试验项目,实验在高温条件下,模拟器件长时间事情状态中的耐受能力,以此可推算呈现实应用中器件的寿命和应力巨细 。在器件量产或使用前凭证现实应用场景模拟实验,提前摸清器件应力情形,可完全阻止因应力、情形导致的失效及影响,是出厂器件必不可少的一项老化实验 。


高温反向偏压试验.jpg


实验目的

袒露器件跟时间、应力相关的缺陷,权衡目今器件是否知足划定的标准要求,排查出封装或晶圆自己的质量问题 。


测试相关标准

可笼罩车规、工规及AEC-Q101、AEC-Q102、AQG324、JEDEC、 JESD 22-A108、JEDEC、 JESD 22-A101、MIL-STD-750、GJB 128等相关标准要求 。


顺应器件种类

可笼罩种种半导体分立器件(二极管、三极管、MOSFET 管 (增强型、耗尽型)、达林顿管、可控硅、IGBT)举行高温反偏试验,适用于种种封装 。


太阳GG实验室具备AEC-Q100/101/102/103/104/200标准检测资质和检测能力,可提供车规级集成电路、分立半导体器件、光电半导体器件、传感器、被动元件等汽车电子元件AEC-Q检测认证效劳 。我们可依据产品使用条件和质量指标,界说切合汽车电子质量要求的测试妄想,助力客户快速进入汽车电子市场 。


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