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AEC-Q认证的ESD测试要求

文章泉源 : 广东太阳GG检测 揭晓时间:2023-04-11 浏览数目:

集成电路电子元件的ESD测试要领

ESD爆发的缘故原由较多 ,关于集成电路电子元件产品 ,常见的ESD被分类为下列三类 ,划分是:人体放电模式(HBM, Human Body Model)、机械放电模式(MM, Machine Model)以及元件充电模式(CDM, Charge Device Model)。

人体放电模式

指人体通过磨擦或其他缘故原由积累了静电 ,而静电没有释放时 ,当人碰触到电子元件时 ,人体积累的静电便会经由电子元件的管脚进入电子元件内 ,再经由电子元件放电到地。该模子表征人体带电接触元件放电 ,人体等效电阻定为1.5kΩ ,人体等效电容定为100pF。

机械放电模式

用于模拟带电导体在电子元件上爆发静电放电。是指机械(例如机械手臂)自己积累了静电 ,当此机械碰触IC时 ,该静电便经由IC的PIN脚放电。该放电历程一连时间较短、电流较大。

元件充电模式

由于摩擦或其他缘故原由 ,电子元件在生产运输历程中积累了静电 ,但由于没有快速释放电荷 ,因此没有受到损伤。这种带有静电的元件的管脚靠近或者触遇到导体某人体时 ,元件内部的静电便会瞬间放电 ,此种模式的放电时间可能只在几ns内。

CDM ESD放电时间更短、电流峰值更高 ,导致器件遭受的ESD应力更大 ,相比于前两种模式 ,CDM更容易导致IC损坏。


AEC-Q认证的ESD测试.jpg


AEC-Q认证的ESD测试要求

AEC-Q车载电子认证对集成电路芯片 ,分立器件 ,被动元器件及其他组件均提出了响应ESD测试需求。

AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q103、AEC-Q104等标准都是依据JS-001及JS-002举行HBM模式和CDM模式的ESD测试。

与其他系列的标准差别 ,AEC-Q200测试要领依据标准ISO 10605 ,分为接触放电和空气放电两种模式。

接触放电是针对可以接触到的半制品电子产品或金属外壳的电子产品 ,接纳接触式放电 ,模拟在生产、运输和使用历程中可能泛起的人体放电对电子产品造成损坏的情形。

空气放电以绝缘外壳或在外壳外貌涂覆绝缘防护层为放电目的 ,该放电不与试样外貌直接接触 ,而是由高压静电脉撞击穿空气并传送到产品内造成电子产品或元器件破损的一种方法。


被动元器件HBM-ESD等效电路模子.jpg

被动元器件HBM ESD等效电路模子


接触放电和空气放电ESD电流波形示意图.jpg

接触放电和空气放电ESD电流波形示意图


被动元器件HBM ESD静电敏感度品级 ,参考AEC-Q200-002标准品级如下表。


被动元器件HBM ESD静电敏感度品级.jpg

被动元器件HBM ESD静电敏感度品级


ISO 10605规范的ESD测试要领同IEC 61000-4-2 ,仅在储能电容及放电电阻方面保存差别。针对AEC-Q200的被动元器件测试要求 ,等效电阻定为2000Ω ,等效电容定为150pF ,相比之下 ,IEC 61000-4-2划定的330Ω、150pF/330pF越发严酷。


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