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电子元器件的寿命

电子元器件有用事情寿命就是它的可靠性，即它能够正常完成某一特定电气功效的时间
。电子元器件失效的历程通常是这样的：随着时间的推移或事情情形的转变，元器件的规格参数爆发改变，例如电阻器的阻值变大或变小，电容器的容量减小等
。当它们的规格参数转变到一定限度时，只管外加事情条件没有改变，却也不可遭受电路的要求而彻底损坏，使它们的特征参数消逝，例如二极管被电压击穿而短路，电阻因阻值变小而超负荷烧断等
。显然，这是一个“从量变到质变”的历程
。

电子元器件的失效率是时间的函数
。统计数字批注，新制造出来的电子元器件，在刚刚投入使用的一段时间内，失效率较量高，这种失效称为早期失效
。电子元器件的早期失效，是由于在设计和生产制造时选用的原质料或工艺步伐方面的缺陷而引起的
。它是隐藏在元器件内部的一种潜在故障，在最先使用后会迅速恶化而袒露出来，元器件的早期失效是十分有害的，但又是不可阻止的
。在经由早期失效期以后，电子元器件将进入正常使用阶段，其失效率会显著地迅速降低，这个阶段叫做无意失效期
。在无意失效期内，电子元器件的失效率很低，并且在极长的时间内险些没有转变，可以以为它是一个小常数
。在经由长时间的使用之后，元器件可能会逐渐老化，失效率又最先增高，直至寿命竣事，这个阶段叫做老化失效期
。电子元器件典范的失效率函数曲线如图1 所示，其转变的纪律就像一个浴盆的剖面，以是这条曲线常被称为“浴盆曲线”
。

图1 失效率函数曲线

老化筛选的原理及目的

老化筛选的原理及目的是：给电子元器件施加热的、电的、机械的或者多种连系的外部应力，模拟卑劣的事情情形，使它们内部的潜在故障加速袒露出来，然后举行电气参数的丈量，筛选剔除了那些失效或变值的元器件，尽可能把早期失效祛除在正常使用之前
。

老化筛选的要领

随着元器件生产水平的提高，在现实生产中凭证差别产品的要求，凭证国家标准选择差别的老化筛选要求和工艺
。通常，对那些通俗民用产品和要求不是很高的低档电子产品，一样平常接纳随机抽样的要领老化筛选元器件，而对那些可靠性要求较高、事情情形严酷的产品，如航天或军工产品，则必需接纳加严的老化筛选要领，100％ 逐个老化筛选元器件
。

电子元器件老化筛选项目一样平常有：高温贮藏、功率老化、温度循环、离心加速率、粗细检漏、镜检、监控振动和攻击、细密筛选等要领
。其中功率老化是给试验的电子元器件通电，模拟现实事情条件，再加上＋80℃至＋180℃的高温履历几个小时，它是一种对元器件多种潜在故障都有磨练作用的有用步伐，也是现在接纳得最多的一种要领
。

可靠性筛选差别于一样平常的质量验收，它是通过施加应力或者检测的步伐来剔除早期失效（即有缺陷的）产品，以是，可靠性筛选不是检查产品的优劣，而是假设所有产品最先时都是好的，并且，可靠性筛选是对100％的产品举行试验
。

常用的老化与筛选要领有：

1. 高温贮藏

电子元件的失效多是由于体内和外貌种种物理、化学转变所引起的，和温度有着亲近的关系
。温度升高以后，化学反应速率加速，失效历程获得加速，使有缺陷元器件能实时的袒露，从而加以剔除
。

2. 功率老化

功率老化又称电老化或电老练
。筛选时在热电应力的配相助用下，能较好地袒露元器件外貌和体内的潜在缺陷，它是可靠性筛选的主要项目
。

3. 温度循环

使用极端高温顺极端低温间的热胀冷缩应力，能有用的剔除有热性能缺陷的产品
。常用的筛选条件是-55℃至＋125℃，循环5-10次
。

4. 离心加速率

通常在半导体器件上举行
。它是使用高速旋转爆发的离心力作用于器件上，可以剔除键合强度过弱、内引线匹配不良以及装架不良的器件
。

5. 粗细检漏

粗细检漏又称气密性试验
。通常在半导体器件和其他有气密性要求的产品上举行
。它用来剔除气密性欠好的元器件，以包管产品在恒久使用中的可靠性
。

6. 镜检

产品在封装以前用显微镜检查通常称为镜检
。关于半导体器件这是一种主要的无损筛选手段
。通常用30-15ox立体显微镜视察种种缺陷，须要时可以用高倍显微镜视察缺陷
。

7. 监控振动和攻击

在对产品举行振动或攻击试验的同时，监测电性能，常称为监控振动或监控攻击试验
。

8. 细密筛选

细密筛选通常是在较低的应力条件下（靠近或略高与元器件的现场使用条件）举行3000-5000h的电老化
。细密筛选试验需要专门的仪器装备，用度腾贵，周期较长，一样平常仅在航空、航天等恒久稳固可靠的系统元器件筛选中作为须要的筛选项目
。

电子元器件二次筛选机构

太阳GG检测认证是专业第三方电子元器件二次筛选机构，专注电子元器件检测近二十年，可提供器件自动化封测、元器件二次筛选、汽车电子（AEC-Q100、 AEC-Q200）、军工电子、DPA检测、失效剖析等电子元器件检测效劳
。